FDX13H 配件菲希爾測(cè)厚儀探頭

• 更新時(shí)間：2022-09-28
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FDX13H 配件菲希爾測(cè)厚儀探頭
為了滿足更高要求的解決方案，例如在油漆層下面測(cè)量熱浸鍍鋅涂層。 專(zhuān)門(mén)為此目的，F(xiàn)ISCHER開(kāi)發(fā)了FDX13H探頭。設(shè)計(jì)用于腐蝕防護(hù)領(lǐng)域的測(cè)量。 同時(shí)測(cè)量雙層涂層系統(tǒng)的各個(gè)涂層厚度，并分別顯示在儀器中。

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FDX13H 配件菲希爾測(cè)厚儀探頭

為了滿足更高要求的解決方案，例如在油漆層下面測(cè)量熱浸鍍鋅涂層。 專(zhuān)門(mén)為此目的，F(xiàn)ISCHER開(kāi)發(fā)了FDX13H探頭。設(shè)計(jì)用于腐蝕防護(hù)領(lǐng)域的測(cè)量。 同時(shí)測(cè)量雙層涂層系統(tǒng)的各個(gè)涂層厚度，并分別顯示在儀器中。 該探頭具有電導(dǎo)率補(bǔ)償功能，因此鋅的不同電導(dǎo)率不會(huì)影響涂層厚度的測(cè)量。 該探頭不適用于包含可磁化云母氧化鐵的涂層系統(tǒng)的測(cè)量。 這會(huì)使測(cè)量失真，并導(dǎo)致涂層厚度值太低。

▍Fischer探頭典型應(yīng)用領(lǐng)域：

?    用探頭FKB10測(cè)量鋼管塑料上的防腐涂層
?    用探頭FDX13H測(cè)量雙層涂層
?    用曲率補(bǔ)償探頭FTD3.3測(cè)量陽(yáng)極氧化涂層
?    用探頭V2FGA06H自動(dòng)測(cè)量活塞桿上的鉻涂層
?    用兩極探針V7FKB4測(cè)量鋅粉涂層
?    使用雙探頭FD10測(cè)量車(chē)身油漆厚度

FDX13H主要應(yīng)用：

?    熱浸鍍鋅鋼或鐵（連續(xù)或分批鍍鋅）上的油漆/清漆和鋅涂層
?    電力塔，橋梁結(jié)構(gòu)部件，交通引導(dǎo)系統(tǒng)
?    大門(mén)，圍墻，護(hù)欄

圖為：使用DUALSCOPE® FMP40以及FDX10兩用探頭在室外進(jìn)行測(cè)量。

▍其他菲希爾探頭應(yīng)用：

▍探頭特性：

1）堅(jiān)固：FISCHER探頭具有很強(qiáng)的耐用性和耐磨損，即使是在堅(jiān)硬表面和無(wú)數(shù)次使用后，也能在很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi)保持準(zhǔn)確的測(cè)量。
2）內(nèi)部研發(fā)和制造：所有的探頭都是按照嚴(yán)格的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)發(fā)和制造的。
3）工廠校準(zhǔn)：每一個(gè)單獨(dú)的探針都是在幾個(gè)參考點(diǎn)進(jìn)行工廠校準(zhǔn)，以確保很大程度的真實(shí)。
4）導(dǎo)電性補(bǔ)償：FISCHER的導(dǎo)電性補(bǔ)償——在所有渦流探頭中使用——使其能夠適應(yīng)基材的不同導(dǎo)電性，例如不同的鋁合金，在實(shí)際的基礎(chǔ)材料上減少耗時(shí)的現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)，同時(shí)達(dá)到很高的準(zhǔn)確度。
5）曲率補(bǔ)償：對(duì)渦流法的特殊探頭可以自動(dòng)補(bǔ)償曲率對(duì)圓形試樣的影響。
6）減少測(cè)量誤差：彈簧負(fù)載系統(tǒng)保證了探頭總是處于同樣的壓力下。這減少了測(cè)量誤差，提高了重復(fù)性精度。我們的許多探頭都裝有這個(gè)彈簧系統(tǒng)。因此，柔軟的表面也可以測(cè)量。
7）探頭選擇基于以下標(biāo)準(zhǔn)：
   • 涂料和基材的材料組合
   • 涂層和基材的大致厚度
   • 測(cè)量點(diǎn)的面積
   • 標(biāo)本的形狀
   • 測(cè)量點(diǎn)的表面狀況

篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
   ==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
   ==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
   ==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
   ==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
   ==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
   ==>>美國(guó)API  XD系列激光干涉儀；
   ==>>美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
   ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
   ==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
   ==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)；
   ==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
   ==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
   ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
   ==>>杭州思看科技三維掃描儀.